MCL – MATERIALS CENTER LEOBEN FORSCHUNG GMBH
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Best Poster Award für Mag. Dr. Günther Maier im Rahmen der
Denver X-Ray Conference
Die 59. Denver X-Ray Conference, die weltweit größte Jahrestagung für die Materi-
alcharakterisierung mittels Röntgenstrahlung, fand von 2. bis 6. August 2010 statt.
Über 400 WissenschaftlerInnen nahmen an der Konferenz teil, die insgesamt 17
Workshops, 56 Posterpräsentationen und 113 Vorträge zu bieten hatte.
Im Bereich Röntgendiffraktion (XRD) wurden 36 Poster präsentiert. Den begehrten
Best Poster Award erhielt das Poster „Nano-Beam X-ray Diffraction Reveals Structu-
ral and Mechanical Gradients in Nano-Crystalline Thin Films“ (J. Keckes, M. Bartosik,
R. Daniel, C. Mitterer, G. Maier, S. Schoeder und M. Burghammer). Das Poster, das
unter Mitwirkung von Dr. Günther Maier entstand, präsentierte Ergebnisse des For-
schungsprojekts „StressDesign“.
Dr. Maier ist seit 2003 amMCL beschäftigt. Seine Kernkompetenzen liegen im Bereich
der Werkstoffcharakterisierung mittels Röntgen- und Synchrotron-basierter Metho-
den.
Das im Rahmen der Österreichischen NanoInitiative durchgeführte Forschungspro-
jekt „StressDesign“ beschäftigt sich mit der Herstellung von dünnen Schichten mit
definierten Eigenspannungen. Die Entwicklung und Anwendung von Messmethoden
für die Charakterisierung von Spannungen leisten einen entscheidenden Beitrag für
das gezielte Design von Schichten zur Lebensdauerverlängerung von Werkzeugen
und Bauteilen in der Elektronikindustrie.
WISSENSBILANZ
IV. OUTPUT & WIRKUNGEN
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