Newsbeitrag

Best Poster Award für Mag. Dr. Günther Maier

Die 59te jährliche Konferenz für Röntgenstrahlanwendungen hat vom 2. bis 6. August 2010 stattgefunden.

Die Denver X-RAY CONFERENCE ist die weltweit größte jährliche Konferenz für die Materialcharakterisierung mittels Röntgenstrahlung. Bei der 59te Konferenz haben über 400 Teilnehmer teilgenommen, 17 Workshops wurden abgehalten, 56 Posters präsentiert und 113 Vorträge gehalten.

Im Bereich XRD wurden 36 Posters präsentiert, wobei das Poster "Nano-Beam X-ray Diffraction Reveals Structural and Mechanical Gradients in Nano-Crystalline Thin Films durch J. Keckes, M. Bartosik, R. Daniela, C. Mitterer, S. Schoeder und M. Burghammer im Rahmen des Forschungsprojektes "StressDesign" eingereicht wurde, an dem Hr. Dr. Maier mitgearbeitet hat. Das Team konnte den begehrten Preis gewinnen. Dr. Maier ist seit 2003 am MCL beschäftigt und seine Kernkompetenzen sind die Wekstoffcharakterisierung mittels Röntgen und Synchrotron basierten Methoden.

Das Forschungsprojekt im Rahmen der Österreichischen NanoInitiative durchgeführte Projekt "Stress Design" beschäftigt sich mit der Herstellung von dünnen Schichten mit definierten Eigenspannungen. Die Entwicklung und die Anwendung von Messmethoden für die Charakterisierung von Spannungen ist ein entscheidender Beitrag für das gezielte Design von Schichten. Die Schichten dienen zur Lebensdauerverlängerung von Werkzeugen und Bauteilen in der Elektronikindustrie.