The ESREF 2025 Symposium took place in Bordeaux from October 6–9, bringing together worldwide experts in Quality & Reliability Management for micro-, nano-, and optoelectronics.
Roland Brunner represented MCL and spoke about “From AI-powered Image Classification to GenAI: Possibilities for Modern Image-based Failure Analysis” His talk showcased how AI & machine learning is revolutionizing failure analysis - from advanced image enhancement and object detection (YOLO) to semantic segmentation - boosting reliability in next-gen advanced packaging technology for AI hardware, HPC and quantum computing.
Special thanks to ESRF2025 Platinum Sponsor PVA TePla for their support and collaboration.
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Roland Brunner bei ESREF 2025 Symposium
Das ESREF 2025 Symposium fand vom 6.–9. Oktober in Bordeaux statt und brachte Expertinnen und Experten aus dem Bereich Qualitäts- und Zuverlässigkeitsmanagement für Mikro-, Nano- und Optoelektronik zusammen.
Roland Brunner vertrat das MCL und sprach über „From AI-powered Image Classification to GenAI: Possibilities for Modern Image-based Failure Analysis“. In seinem Vortrag verdeutlichte er, wie künstliche Intelligenz und maschinelles Lernen die Fehleranalyse grundlegend transformieren – von modernster Bildverbesserung und präziser Objekterkennung (YOLO) bis hin zu fortschrittlicher semantischer Segmentierung – und dadurch die Zuverlässigkeit in „Advanced Packaging“ Technologien für AI Hardware, HPC und Quantencomputing entscheidend erhöhen.
Ein herzliches Dankeschön an den ESRF2025 Platinum-Sponsor PVA TePla für die finanzielle Unterstützung und Zusammenarbeit.
