Hochauflösende Gefügeauf-
nahme von Schnellarbeitsstahl
EBSD-Aufnahme eines
Vergütungsstahles
2D-Härtemapping durch eine
Mehrlagenschweißung
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Elektronenmikroskopie
Die Kernkompetenzen des Elektronenmikroskopielabors:
• Charakterisierung von Oberflächen, Bruchflächen und Schliffen mittels Rasterelektronenmikroskopie
• Werkstoffuntersuchungen bis hin zur 3D-Gefügetomographie mit Hilfe der REM-FIB-Technologie
• Zielpräparation von TEM-Dünnfolien oder Atomsondenspitzen für weiterführende hochauflösendeUntersuchungen
• Rastersondenmikroskopische Charakterisierung von lokalen elektronischen und magnetischen Eigenschaften
und der Oberflächenmorphologie
• Werkstoffuntersuchungen hinsichtlich Schädigung
Die technische Ausstattung des Elektronenmikroskopielabors umfasst:
• Hochauflösendes Dual-Beam-Rasterelektronenmikroskop (REM-FIB)
• Rasterelektronenmikroskop mit sehr großer Probenkammer für Bauteiluntersuchungen
• Rastersondenmikroskop (SPM), welches auch in das REM-FIB für in-situ-Untersuchungen integriert werden kann
Physikalisch-chemische Untersuchungen
Die Kernkompetenzen des physikalisch/chemischen Labors:
• Röntgenographische Phasen- und Strukturanalyse, z.B. Restaustenitbestimmung
• Röntgenographische Texturbestimmung
• Röntgenographische Bestimmung von prozess- oder einsatzbedingten Eigenspannungen und Eigenspannungs
tiefenprofilen
• Bestimmung von Phasenumwandlungstemperaturen
• Aufnahme von Zeit-Temperatur-Umwandlungsschaubildern
• Chemische Materialanalyse
• Messung von Kohlenstoff- und Stickstofftiefenprofilen und sonstigen chemischen Tiefenprofilen
• 3D-Abbildung mittels hochauflösender Computertomographie
Technische Ausstattung:
• Diverse Röntgendiffraktometer (Labor- und mobile Goniometer)
• Hochauflösendes Glimmentladungsspektrometer
• Differentialthermoanalyse inkl. Massenspektrometer
• Abschreckdilatometer inkl. Tieftemperatureinheit
• Hochauflösender Computertomograph
• Ultraschallmikroskop
