Elektronenmikroskopielabor DE - page 4

Analysen an Bauteilen
und großen Proben
KOMPETENZ UND MODERNSTE EINRICHTUNGEN
FÜR IHREN ERFOLG
Untersuchung einer
Kurbelwelle im Großraum
Rasterelektronenmikrosk
Unsere Schwerpunkte /
Kompetenzen
• REM Untersuchung und Schadensanalytik großer
bzw. schwer zu reinigender Proben
• REM Untersuchung von nichtleitenden Bauteilen und
Komponenten ohne zusätzliche Bedampfung (z.B.
keramische Komponenten oder Metall / Kunststoff
Verbunde)
• Erweiterte 3D-Schadensanalytik durch Nutzung der
FIB-Schnitttechnologie.
FIB-Freischnitt zur Sichtbarmachung von Defekten (Einschlüssen)
Chemischer Analyse
(EDX) der Einschlüsse.
Durchführung von Untersuchungen und Schadensanalytik
an realen Bauteilen, Werkzeugen oder großen Proben.
Dabei ist auch die Untersuchung von Materialien mit
nichtleitenden Phasen oder Schichten ohne Bedampfen
möglich.
Hochauflösende
REM-Untersuchungen
Unsere Schwerpunkte /
Kompetenzen
• Oberflächencharakterisierung hinsichtlich Topogra-
phie und lokale chemische Zusammensetzung
• Gefügecharakterisierung anhand metallographi-
scher Schliffe
• Charakterisierung und Beurteilung geschädigter
Oberflächen (z.B. von korrodierten oder verschlisse-
nen Teilen)
• Fraktographische Beurteilungen (insbesondere auch
im Rahmen von Schadensanalysen)
200 nm
200 µm
Karbidausscheidung in
einem Kaltarbeitsstahl
EBSD Analyse an Kupfer
Standard- und hochauflösende Untersuchungen an
­Bauteiloberflächen, metallographischen Schliffen
­(Gefügecharakterisierung) und von Bruchflächen
­(fraktographische Beurteilung).
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