Die Kopplung von Simulation und Experiment bildet die Basis für die Entwicklung von Zuverlässigkeitstests am MCL. Besonders bei Komponenten wie High-Power LEDs geht der Trend immer mehr dahin, lange Lebensdauern zu gewährleisten (>50.000h). Um diese Qualitätsmerkmale sicherzustellen, müssen aufwändige und lang andauernde Lebensdauertests durchgeführt werden.
Am MCL wurde ein beschleunigter, thermo-mechanischer Test entwickelt, der den zeitaufwändigen elektrischen Ein/Aus-Schalttest (SST) ersetzt. Wird eine LED im SST-Test betrieben, so erfährt das Bauteil eine thermische Belastung, die sich schlussendlich als mechanischer Stress zeigt. Die Methode umfasst eine auf finite Elemente basierende Simulation, welche die Dehnungen und Spannungen während eines Stresszyklus im Bauteil berechnet. Die experimentelle zyklische Belastung erfolgt dann entsprechend den Simulationsergebnissen mittels einer dynamisch-mechanischen Prüfeinrichtung.
Mit dem ATMT-Test wurden nicht nur die gleichen Fehlermoden bei vergleichbaren Testzyklen wie beim SST-Test ausgelöst, auch die Ausfallstatistik entspricht dem Standard-SST-Test.
Kontakt: Elke Kraker