MCL was part of the European research project iRel40 (www.iRel40.eu), where it worked together with partners from 13 European member states on pushing the frontiers of reliability for microelectronics. Selected project outcomes were now published in a Book by Springer (https://doi.org/10.1007/978-3-031-59361-1).
The book also features work of our colleagues Christoph Siegl and Manfred Mücke investigating a Google toolchain (TFLite for Microcontrollers) to execute machine learning algorithms on microcontrollers. Their work contributes to more effective design of condition monitoring systems. An early version of their work is also available on https://medium.com/p/25a5f7baa4f6
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MCL-Beitrag für Buch “Recent Advances in Microelectronics Reliability”
Das MCL war Teil des europäischen Forschungsprojekts iRel40 (www.iRel40.eu) und arbeitete zusammen mit Partnern aus 13 europäischen Mitgliedsstaaten daran, die Grenzen der Zuverlässigkeit in der Mikroelektronik zu verbessern. Ausgewählte Projektergebnisse wurden jetzt in einem Buch bei Springer veröffentlicht (https://doi.org/10.1007/978-3-031-59361-1).
In dem Buch sind auch Arbeiten unserer Kollegen Christoph Siegl und Manfred Mücke zu finden, die eine Google-Toolchain (TFLite for Microcontrollers) zur Ausführung von Algorithmen des maschinellen Lernens auf Mikrocontrollern untersuchen. Ihre Arbeit trägt zu einem effektiveren Design von Zustandsüberwachungssystemen bei. Eine frühe Version ihrer Arbeit ist auch auf https://medium.com/p/25a5f7baa4f6 verfügbar.
