- Qualitative und quantitative röntgenographische Phasenanalyse (25°C bis 1400°C)
- Röntgenographische Restaustenitbestimmung (u.a. nach ASTM E975-03 bzw. Rietveld-Methode, auch Tiefenverläufe)
- Röntgenographische Phasen- und Strukturanalyse von dünnen Oberflächenschichten
- Bestimmung von Fasertexturen in Schichtsystemen (25°C bis 900°C)
- Bestimmung von Texturen an metallischen Werkstoffen
- Röntgenographische Bestimmung von prozessbedingten Eigenspannungen an Oberflächen (25°C bis 900°C)
- Röntgenographische Ermittlung von Eigenspannungstiefenprofilen an Proben und Bauteilen (z.B. Getriebebauteile)
- Mobile Vor-Ort-Eigenspannungsmessung an größeren Bauteilen, Komponenten oder Werkstoffen
- Aufnahme von Zeit-Temperatur-Schaubildern (isotherm und kontinuierlich, ZTU, ZTA)
- Chemische Materialanalyse mittels Funkenspektral- oder Röntgenfluoreszenzanalyse*
- Messung von Kohlenstoff- und Stickstofftiefenprofilen an thermochemisch behandelten Stählen
- Chemische Tiefenprofilanalyse an dünnen Schichten (z.B. nitridische / karbidische / oxidische Schichten)